組件與零部件的清潔對(duì)于生產(chǎn)工藝十分重要。對(duì)于開發(fā)、制造、批量生產(chǎn)以及成品質(zhì)量控制的所有流程，滿足對(duì)常見微觀尺寸污染物和異物顆粒的計(jì)數(shù)、分析和分類的高標(biāo)準(zhǔn)要求是非常重要的。

電解液磁性顆粒檢測(cè)儀清潔度儀專為滿足現(xiàn)代工業(yè)及國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的清潔度要求而特別設(shè)計(jì)。

本系統(tǒng)滿足ISO16232/VDA19等國(guó)際清潔度檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，設(shè)計(jì)制造嚴(yán)格遵循國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。

采用核心智能圖像拼接技術(shù)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)濾膜進(jìn)行智能掃描，無縫拼接，全局預(yù)覽圖像，超越進(jìn)口設(shè)備。

一鍵掃描即可設(shè)別全部顆粒（金屬、非金屬、纖維），分析結(jié)果可示化。按照標(biāo)準(zhǔn)等級(jí)區(qū)間劃分所有顆粒。

電解液磁性顆粒檢測(cè)儀清潔度儀采用連續(xù)變倍體式顯微鏡方案，VDA19/ISO16232清潔度檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)推薦方案，可獲得更大景深，更快檢測(cè)速度。

僅一次掃描，自動(dòng)偏振光技術(shù)，自動(dòng)化程度高。

分析結(jié)果MAP圖儲(chǔ)存,數(shù)據(jù)保存指D根目錄，可任意調(diào)用及從新分析。

SQL數(shù)據(jù)庫統(tǒng)計(jì)，可選擇任意時(shí)間段查看并調(diào)出蕞大金屬顆粒、任意顆粒尺寸范圍數(shù)據(jù)，并以趨勢(shì)圖表述。

本系統(tǒng)蕞大還原顆粒污染物原色彩及顆粒數(shù)據(jù)測(cè)量準(zhǔn)確性。

軟件性能*，簡(jiǎn)單易用，免費(fèi)升級(jí)。

自動(dòng)導(dǎo)出清潔度檢測(cè)報(bào)告。

系統(tǒng)具備重復(fù)性、準(zhǔn)確性、可靠性。

功能超越進(jìn)口設(shè)備，可*替代進(jìn)口清潔度檢測(cè)系統(tǒng)。